快速链接
产品说明 Product description
日联科技半导体X射线检测设备 —— AX8300Si
日联科技为满足半导体客户对X射线检测的需求,推出的一款具备高性能、高清晰度和高分辨率的X-ray检测设备,主要应用于Lead Frame检测
设备应用 Application
日联科技微焦点X-ray AX8300Si 适用于半导体、SMT、DIP、覆盖IC、BGA、CSP、倒装芯片、LED等检测
高清晰实时成像,可自动测算金线、气泡空洞率,自带上下料、配置高速CNC巡航自动测算
产品特点 Product Characteristics
客户案例 Customer Case
日联科技半导体X-ray设备AX8300Si采用的是免维护、寿命长的封闭式微焦点X射线源,配置百万级高分辨率FDP探测器,
拥有强大的图像处理功能,NG品自动打标、配置Rework复判服务器,可对接MES系统
安全保障 Safety Protection
防辐射结构-射线源无动作自保护功能-接地保护