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集成电路X-Ray

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半导体微焦点X射线检测装备 AX8300S Plus

集成电路X-Ray

半导体微焦点X射线检测装备 AX8300S Plus

◆ 2.5D无死角检测

◆ 高分辨率，解析度2μm

◆ 双屏双摇杆

◆ 配备半导体自动检测算法，单个点检测1.5S

半导体X-ray

微焦点X射线检测设备

8300splus详情页.jpg

半导体微聚焦X射线检测设备 AX8300Si

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